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Revisão Teórica sobre Materiais Semicondutores e suas Aplicações
Última alteração: 2017-10-07
Resumo
Tem como objetivo analisar pesquisas que utilizam as formas de analise XANES e EXAFS em amostras individuais de ZnO:Co e espera-se que os resultados obtidos das medidas de XAFS (XANES e EXAFS) possam contribuir para o esclarecimento da verdadeira origem do ferromagnetismo observado.
Palavras-chave
Xafs;Ferromagnetismo; Semicondutor.