Portal de Eventos Científicos da UTFPR (EVIN), XXII Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica da UTFPR

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Caracterização e quantização por refinamento Rietveld de difrações de raios X de metais
LUCAS MACHADO XAVIER, Paulo William Carvalho Sarvezuk, Ilton Machado Silva

Última alteração: 2017-10-23

Resumo


O trabalho tem como objetivo fazer com que o acadêmico aprenda a manusear uma ferramenta não convencional de caracterização que pode ser aplicada na engenharia ou em qualquer área de conhecimento que envolva metais e minerais. Assim, para aprender algo novo foi preciso realizar uma breve busca e revisão na literatura. Para estudar os conceitos e processos foram revisados, elaborados e apresentados, na forma de mini seminários de discussão, que correlacionaram os temas ao trabalho que seria realizado no projeto. Após a etapa de estudo, começou a parte prática: identificação de fases os programas estudados foram Match!3 e HighScore Xpert. A partir deste programa, foram elaboradas várias caracterizações de aços e ligas metálicas, com uma ou mais fases. A segunda parte prática era analisar os resultados e começamos os trabalhos com o programa FullProf que, diferente dos dois primeiros, apresentava vários programas de caracterização, quantização via refinamento Rietveld. Foram analisadas amostras como: aços maraging em diferentes condições de tratamentos térmicos. Por fim, sendo os programas citados utilizados para identificação de fases cristalinas, a difração de raios X e refinamento Rietveld pode ser usada, além de aços, por exemplo na caracterização mineralógica de solos, cerâmicos, entre outros compostos que envolvam metais pesados.


Palavras-chave


refinamento Rietveld; Difração de Raios X; Metais.