Portal de Eventos Científicos da UTFPR (EVIN), XXIII Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica da UTFPR

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Principais limitações na caracterização mineralógica por difração de raios x
ilton machado silva

Última alteração: 2018-11-29

Resumo


O presente trabalho buscou demonstrar a importância de analises por difração de raios X mesmo em amostras difíceis de serem purificadas, com várias fases, e, consequentemente difíceis de ser quantificada. A amostra foi coletada do solo do fundo do lago urbano do parque Arthur Thomas em Londrina – PR (VIEIRA, 2016). Mesmo com interferentes orgânicos a amostra foi analisada e os resultados obtidos foram comparados com padrões de um banco de dados  no Philips HighScore Plus. Por meio dessa comparação foi possível identificar a presença de quartzo (SiO2), aluminia  (Al2O3) e outros minerais.  Com esses padrões a medida de difração de raios X foi analisada com software FullProf usado para o refinamento Rietveld através de padrões gerados por raios X. Esses resultados demonstram a relevância da técnica que ainda não é utilizada em toda sua capacidade na maioria dos estudos desse gênero.


Palavras-chave


Raios X. Cristalografia. Minerais.