Para obtermos a resistividade a partir das medidas de resistência precisamos saber as dimensões da nossa amostra (largura, espessura e comprimento). No caso de filmes finos temos geralmente amostras rugosas com distribuição não-uniforme de material. Para contornarmos essa dificuldade utilizamos o método de van der Pauw (vdP). A principal vantagem desse método é a independência das dimensões para o cálculo da resistividade, sendo necessária apenas a espessura média. São feitos quatro contatos nas bordas da amostra. Uma corrente elétrica é aplicada entre os contatos 1 e 2, e é medida a tensão elétrica entre os contatos 3 e 4 = medida V1234. Para varrer toda a amostra são feitas oito medidas, V1234, V2134, V4123, V1423, V3412, V4312, V2314 e V3214. A fim de realizar essa comutação de contatos de forma automatizada está em desenvolvimento um protótipo baseado em arduíno e array 8x2 de relés. Para a realização das medidas I(V) é necessária uma fonte de corrente (Minipa) e um multímetro programável (MyRIO). Serão desenvolvidos softwares em Labview para o controle dos equipamentos e aquisição dos dados experimentais. Um sistema van der Pauw comercial (sem fonte/multímetro) custa em torno de U$10mil, já o nosso sistema completo está orçado em U$500.