Portal de Eventos Científicos da UTFPR (EVIN), XXV Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica da UTFPR

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Aplicação de difração de raios X na Engenharia Química
Ana Júlia Briganti Bezerra, Paulo Willian C Sarvezuk

Última alteração: 2020-11-21

Resumo


Este artigo revisa os conceitos físicos fundamentais para utilização da tecnologia de difração de raios X devido seu potencial de utilização em empresas, universidades, indústrias e centros de pesquisa, por ser uma das técnicas de caracterização mais utilizadas e importantes atualmente. Buscamos fornecer os princípios técnicos de forma simples, porém completa, como o mecanismo de geração de raios X, sua interação com os cristais, o método de coleta de dados, a geração e análise dos padrões de difração e os procedimentos de refinamento. Finalmente, uma seção apresenta especificamente uma aplicação do procedimento, mostrando os resultados obtidos de um refinamento de difração de raios X da amostra CoNb2O6 e como essas informações podem ser compiladas e interpretadas.


Palavras-chave


Difração de raios-x; caracterização de materiais; estruturas cristalinas; refinamento Rietveld.

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